STDF Statistical Analyzer - STDF分析工具

arthur

目前市面上有很多STDF分析工具，大多是收费的，而且价格非常高，比如Galaxy, PDF Solution等等。最近在微软商店发现了一款STDF分析工具，见面简洁好用，虽说功能没有大型软件那么强大，但是基本的分析功能都有，一般的PE/TE使用已经足够了。主要价格便宜，只需要200+ RMB/年，就算公司不给报销个人也能够承受，有了好的工具，我们分析数据和做良率改善的效率将大大提高。

安装说明：
必须是Win10/11的电脑，需要有微软商店，然后直接在微软商店里面搜索"stdf"即可找到。需要注册微软账号以便能在微软商店中下载应用。
也可以通过下面链接直接找到它，然后点击“在Microsoft Store中获取”来启动电脑上的微软商店
STDF Statistical Analyzer - Microsoft Store 应用程序

试用说明：
STDF Statistical Analyzer提供7天的免费试用，步骤如下：直接点击 “帮助-订阅”，然后你就有完整的试用授权了，这时候不会扣除您的费用，7天后才会扣除年费。这时候你立即到自己的微软账号中管理订阅，把STDF Statistical Analyzer的订阅停掉，这样7天后就不会扣费。后去如果需要购买，直接再开启订阅即可。

功能说明：
1. 解析速度还是蛮快的，可以一次打开多个STDF文件，也可以向当前已经打开的文件中添加STDF文件一起分析
2. 统计参数列表：解析完成之后，工具会按照我们当前选择的分组条件(Group) 为每个测试项创建统计参数列表，用于对比。其中统计参数是可以自己选择的，包括(Mean, StDev, CPK, Min, Median, Max, ExeQty, FailCount, Yield)。统计参数列表可以排序，当我们按照FailCount排序的时候，就可以看到哪些测试项fail比较多。

3. 统计图形，在统计参数列表中选中任何测试项时，在右边会显示对应的统计图形，图形也是按照我们选择的分组条件(Group)创建的，可以清晰在图像对比。统计图形我们也可以自己选择要显示哪些图形，内置的图形包括(直方图，趋势图，箱线图，Probability Chart / Cummulative Frequency和Histo-Box组合图)，在右上角有个图形开关需要开启，也可以设置图形大小。统计图形都可以缩放:Ctrl+鼠标滚轮

4. Bin Summary, 这个工具主要是用来显示HBin和SBin的统计结果，也可以分组和排序，可以用来检查良率和哪些bin fail多

5. Wafer Map, 这个功能是针对CP的数据的，解析完成之后，可以直接点击并生成wafer map，并且wafer map具有交互功能和缩放旋转等功能。并且可以保存为Excel的格式用于分享交流

6. Parametric Map, 这个是对选择的测试参数做参数map，需要先选择测试项，然后点击生成map，用来检查特定的参数的reading在wafer上是否有一些分布的pattern。

7. 数据保存：可以把统计参数列表和原始数据导出为CSV/Excel格式，CSV更加快。也可以把每个参数的统计图形导出到Word格式，wafer map/parametric map可以导出为Excel格式

8：分组功能（Group): 我们分析数据的时候经常需要对比，对比不同的lot, 机台，load boad, site, wafer等等，这个工具的对比功能非常强大，直接通过Group菜单切换分组条件即可

9：其他功能: 还有其他一些方便使用的功能，比如单幅统计图复制和保存，应用当前的显示区间，设置导出的数据/格式。切换解析时候的测试项关键字(TEST_NUM, TEST_NAM, TEST_NUM+TEST_NAM)等等